南京晨光集团有限责任公司环境与可靠性实验中心

GJB 367A-2001

军用通信设备通用规范

GJB 360B-2009

电子及电气元件试验方法 方法

QJ 1177.6-1987

地空、舰空导弹武器系统环境试验方法 湿热试验

QJ 1184.5-1987

海防导弹环境规范 弹上设备湿热试验 程序I

QJ 1239.8-1987

电子设备环境试验条件和方法 湿热试验 程序I

GB/T 2423.10-2019

环境试验第2部分：试验方法试验Fc：振动（正弦）

QJ 1177.14-1987

地空、舰空导弹武器系统环境试验方法 振动试验

QJ 1177.16-1987

地空、舰空导弹武器系统环境试验方法 冲击试验

QJ 1184.8-1987

海防导弹环境规范 弹上设备冲击试验

QJ 1238.9-1987

导弹运载火箭上电缆试验方法 冲击试验

GB/T 2423.15-2008

电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ga和导则：稳态加速度

GJB150.15-1986

军用设备环境试验方法加速度试验

GJB150.15A-2009

军用装备实验室环境试验方法第15部分：加速度试验

QJ 1177.13-1987

地空、舰空导弹武器系统环境试验方法 加速度试验

QJ 1184.11-1987

海防导弹环境规范 弹上设备加速度试验

QJ 1184.12-1987

海防导弹环境规范 弹上设备振动试验

QJ 1239.14-1987

电子设备环境试验条件和方法 加速度试验

QJ 1238.11-1987

导弹运载火箭上电缆试验方法 加速度试验

GB/T 2423.21-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M：低气压

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法

地空、舰空导弹武器系统环境试验方法 低气压试验 QJ 1177.2-

地空、舰空导弹武器系统环境试验方法 低气压试验 QJ 1177.2-

电子设备环境试验条件和方法 低气压试验 QJ 1239.5-1987 程序I，程序II

电子设备环境试验条件和方法 低气压试验 QJ 1239.5-1987 程序I，程序II

导弹运载火箭上电缆试验方法 低气压试验 QJ 1238.18-

导弹运载火箭上电缆试验方法 低气压试验 QJ 1238.18-

军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB 150.2-

军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB 150.2-

军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压试验（高度） GJB 150.2A-2009 程序I，程序II

军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压试验（高度） GJB 150.2A-2009 程序I，程序II

QJ 1239.11-1987

电子设备环境试验条件和方法 振动试验 程序I

军用通信设备通用规范 可靠性附录B 可靠性试验方法 GJB 367A-

军用通信设备通用规范 可靠性附录B 可靠性试验方法 GJB 367A-

机载悬挂装置试验方法 6.6.2..4.4 温度-振动组合试验 GJB1063A-

机载悬挂装置试验方法 6.6.2..4.4 温度-振动组合试验 GJB1063A-

可靠性鉴定和验收试验 GJB 899-

可靠性鉴定和验收试验 GJB 899-

可靠性鉴定和验收试验 GJB 899A-

可靠性鉴定和验收试验 GJB 899A-

可靠性增长试验 GJB1407-

可靠性增长试验 GJB1407-

GJB 1032-1990

电子产品环境应力筛选方法

GJB 1032A-2020

电子产品环境应力筛选方法

GB/T 4857.7-2005

包装 运输包装件基本试验第7部分：正弦定频振动试验方法

GB/T4857.10-2005

包装 运输包装件基本试验第10部分：正弦变频振动试验方法

GB/T 4857.23-2012

包装 运输包装件基本试验 第23部分：随机振动 试验方法

QJ 1238.10-1987

导弹运载火箭上电缆试验方法 振动试验

GB/T 4857.13-2005

包装 运输包装件基本试验 第13部分：低气压试验方法

GB/T 2423.5-2019

环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则 ：冲击

GJB 150.18-1986

军用设备环境试验方法冲击试验 试验5，试验

GJB 150.18A-2009

军用装备实验室 环境试验方法 第18部分：冲击试验 程序I，程序V

GB/T 2423.56-2018

环境试验第2部分：试验方法试验Fh ：宽带随机振动和导则

GB/T 2423.1-2008

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温

GJB 4.3-1983

舰船电子设备环境试验低温试验

GJB 150.4-1986

军用设备环境试验方法低温试验

GJB 150.4A-2009

军用装备实验室环境试验方法第4部分 低温试验

GB/T 2423.58-2008

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fi：振动 混合模式

QJ 1177.4-1987

地空、舰空导弹武器系统环境试验方法 低温试验

QJ 1184.2-1987

海防导弹环境规范 弹上设备低温试验

QJ 1238.2-1987

导弹运载火箭上电缆试验方法 低温试验

QJ 1239.3-1987

电子设备环境试验条件和方法 低温试验

GB/T 2423.17-2008

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ka：盐雾

GB/T 2423.18-2021

环境试验 第2部分：试验方法 试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）

军用设备环境试验方法 盐雾试验 GJB 150.11-

军用设备环境试验方法 盐雾试验 GJB 150.11-

军用装备实验室环境试验方法 第11部分：盐雾试验 GJB 150.11A-

军用装备实验室环境试验方法 第11部分：盐雾试验 GJB 150.11A-

舰船电子设备环境试验 盐雾试验 GJB 4.11-

舰船电子设备环境试验 盐雾试验 GJB 4.11-

电子及电气元件试验方法 方法 101 盐雾试验 GJB 360A-

电子及电气元件试验方法 方法 101 盐雾试验 GJB 360A-

GJB 4.7-1983

舰船电子设备环境试验振动试验

电子及电气元件试验方法 方法 101 盐雾试验 GJB 360B-

电子及电气元件试验方法 方法 101 盐雾试验 GJB 360B-

微电子器件试验方法和程序 方法 1009.2 盐雾（盐汽） GJB 548B-

微电子器件试验方法和程序 方法 1009.2 盐雾（盐汽） GJB 548B-

半导体分立器件试验方法 方法1041盐气（侵蚀）方法 1046 盐雾（腐蚀） GJB 128A-

半导体分立器件试验方法 方法1041盐气（侵蚀）方法 1046 盐雾（腐蚀） GJB 128A-

GB/T 2423.2-2008

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温

GJB 4.2-1983

舰船设备环境试验：高温试验

GJB 150.3-1986

军用设备环境试验方法：高温试验

GJB 150.3A-2009

军用装备实验室环境试验方法第3部分 高温试验

QJ 1177.3-1987

地空、舰空导弹武器系统环境试验方法 高温试验

QJ 1184.1-1987

海防导弹环境规范 弹上设备高温试验

QJ 1239.2-1987

电子设备环境试验条件和方法 高温试验

QJ 1238.3-1987

导弹运载火箭上电缆试验方法 高温试验

QJ 1238.12-1987

导弹运载火箭上电缆试验方法 高温老化试验

GB/T 2423.3-2016

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验

GJB 4.5-1983

舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验

GB/T 2423.4-2008

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h+12h循环）

GJB 4.6-1983

舰船电子设备环境试验交变湿热试验

GJB 150.16-1986

军用设备环境试验方法振动试验

GJB 150.9-1986

军用设备环境试验方法湿热试验

GJB 150.9A-2009

军用装备实验室环境 试验方法 第9部分 湿热试验

GJB 548B-2005

微电子器件试验方法和程序 方法

QJ 1238.4-1987

导弹运载火箭上电缆试验方法 交变湿热试验

GJB 150.5-1986

军用设备环境试验方法温度冲击试验

GJB 150.16A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第16部分 振动试验 程序I,程序IV

GJB 150.5A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第5部分 温度冲击试验