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2026-05-12
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GJB 151B-2013
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量
检测项目:CS109 50Hz~100kHz 壳体电流传导敏感度、CS112 静电放电敏感度、CS114 4kHz~400MHz电缆束注入传导敏感度、CS115 电缆束注入脉冲激励传导敏感度、CS116 10kHz~100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬态传导敏感度、RE101 25Hz~100kHz磁场辐射发射、RE102 10kHz~18GHz电场辐射发射、RS101 25Hz~100kHz磁场辐射敏感度
检测对象:设备和分系统
GJB 151C-2024
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量
检测项目:CS109 50Hz~100kHz 壳体电流传导敏感度、CS115 电缆束注入脉冲激励传导敏感度、CS116 10kHz~100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬态传导敏感度、RE101 25Hz~100kHz磁场辐射发射、RE102 10kHz~18GHz电场辐射发射、RS101 25Hz~100kHz磁场辐射敏感度
检测对象:设备和分系统
GJB 367A-2001
军用通信设备通用规范
检测项目:高温、湿热、低气压试验、低温、温度冲击试验
检测对象:电子产品
GJB 1027A-2020
运载器/上面级和航天器试验要求
检测项目:温度变化、振动、加速度试验、热真空试验、冲击试验
检测对象:电子产品
GJB 322A-1998
军用计算机通用规范 3.9.3,
检测项目:湿热、温度冲击试验
检测对象:电子产品
GB/T 25119-2021 12.2.12
轨道交通 机车车辆 电子装置
检测项目:振动、冲击试验
检测对象:电子产品
GB/T 21563-2018
轨道交通 机车车辆设备冲击和振动试验
检测项目:振动、冲击试验
检测对象:电子产品
GJB 360B-2009 方法105
电子及电气元件试验方法
检测项目:低气压试验、温度冲击试验
检测对象:电子产品
GB/T19077-2024
粒度分析 激光衍射法
检测项目:粒度分析
检测对象:粉体材料
GJB150.3A-2009
军用装备实验室环境试验方法第3部分 高温试验
检测项目:高温
检测对象:电子产品
GB/T 17626.2-2018
电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
检测项目:CS112 静电放电敏感度
检测对象:设备和分系统
GJB 360B-2009 方法108
电子及电气元件试验方法
检测项目:高温
检测对象:电子产品
舰船电子设备环境试验 高温试验 GJB 4.2-1983 2,3,
舰船电子设备环境试验 高温试验 GJB 4.2-1983 2,3,
检测项目:高温
检测对象:电子产品
机载设备环境条件及试验方法 高温 HB 5830.8-
机载设备环境条件及试验方法 高温 HB 5830.8-
检测项目:高温
检测对象:电子产品
GJB 150.9A-2009
军用装备实验室环境试验方法 第9部分:湿热试验
检测项目:湿热
检测对象:电子产品
GB/T 2423.3-2016
环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
检测项目:湿热
检测对象:电子产品
GB/T 2423.4-2008
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h+12h循环)
检测项目:湿热
检测对象:电子产品
GB/T 2423.34-2024
环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验
检测项目:湿热
检测对象:电子产品
GB/T 2423.50-2012
环境试验 第2部分:试验方法 试验Cy: 恒定湿热 主要用于元件的加速试验
检测项目:湿热
检测对象:电子产品
GB/T 4340.1-2024
金属材料 维氏硬度试验 第1部分:试验方法
检测项目:维氏硬度
检测对象:金属与合金
GJB 360B-2009 方法103
电子及电气元件试验方法
检测项目:湿热
检测对象:电子产品
GB/T 25119-2021
轨道交通 机车车辆 电子装置
检测项目:湿热
检测对象:电子产品
HB 6167.4-2014
民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第4部分:湿热试验
检测项目:湿热
检测对象:电子产品
HB 5830.11-1986
机载设备环境条件及试验方法 湿热
检测项目:湿热
检测对象:电子产品
SJ 20115.4-1992
机载雷达环境条件及试验方法 交变湿热试验
检测项目:湿热
检测对象:电子产品
GB/T2423.22-2012
环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
检测项目:温度变化
检测对象:电子产品
HB 6167.3-2014
民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第3部分:温度变化试验
检测项目:温度变化
检测对象:电子产品
GB/T2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
检测项目:低温
检测对象:电子产品
GB/T 2423.10-2019
环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)
检测项目:振动
检测对象:电子产品
机载设备环境条件及试验方法 振动 HB 5830.5-
机载设备环境条件及试验方法 振动 HB 5830.5-
检测项目:振动
检测对象:电子产品
HB 6167.6-2014
民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第6部分:振动试验
检测项目:振动
检测对象:电子产品
GB/T 4857.7-2005
包装 运输包装件基本试验 第7部分:正弦定频振动试验方法
检测项目:振动
检测对象:电子产品
GB/T 4857.23-2021
包装 运输包装件基本试验 第23部分:随机振动试验方法
检测项目:振动
检测对象:电子产品
舰船电子设备环境试验 振动试验 GJB 4.7-
舰船电子设备环境试验 振动试验 GJB 4.7-
检测项目:振动
检测对象:电子产品
GJB 360B-2009 201、204、214
电子及电气元件试验方法
检测项目:振动
检测对象:电子产品
GJB150.4A-2009
军用装备实验室环境试验方法第4部分 低温试验
检测项目:低温
检测对象:电子产品
GJB 1032A-2020
电子产品环境应力筛选方法
检测项目:振动
检测对象:电子产品
GJB 367A-2001 4.7.38
军用通信设备通用规范
检测项目:振动
检测对象:电子产品
HB 5830.6-1984
机载设备环境条件及试验方法 运输振动
检测项目:振动
检测对象:电子产品
SC/T 7002.8-2018
渔船用电子设备环境试验条件和方法 正弦振动
检测项目:振动
检测对象:电子产品
GJB 150.16A-2009
军用装备实验室环境试验方法 第16部分:振动试验
检测项目:振动
检测对象:电子产品
GJB 150.2A-2009
军用装备实验室环境试验方法 第2部分:低气压(高度)试验 7.3.1,
检测项目:低气压试验
检测对象:电子产品
GB/T 2423.21-2008
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验M 低气压
检测项目:低气压试验
检测对象:电子产品
GB/T 2423.27-2020
环境试验 第2部分:试验方法 试验方法和导则:温度/低气压或 温度/湿度/低气压综合试验
检测项目:低气压试验
检测对象:电子产品
舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-1983 2,3,
舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-1983 2,3,
检测项目:低温
检测对象:电子产品
GB/T 4857.13-2005
包装 运输包装件基本试验 第13部分:低气压试验方法
检测项目:低气压试验
检测对象:电子产品
HB 5830.14-1996 5.1
机载设备环境条件及试验方法.低气压(高度)
检测项目:低气压试验
检测对象:电子产品
HB 5830.17-1997
机载设备环境条件及试验方法.温度-高度 3.1.3,3.3,3.4.1,
检测项目:低气压试验
检测对象:电子产品
HB 6167.2-2014
民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第2部分:温度和高度试验
检测项目:低气压试验
检测对象:电子产品
SJ 20115.8-1992
机载雷达环境条件及试验方法 恒加速度试验
检测项目:加速度试验
检测对象:电子产品
HB 6167.16-2014
民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第16部分:加速度试验
检测项目:加速度试验
检测对象:电子产品
GJB 360B-2009 方法212
电子及电气元件试验方法
检测项目:加速度试验
检测对象:电子产品
GJB 150.15A-2009
军用装备实验室环境试验方法 第15部分:加速度试验
检测项目:加速度试验
检测对象:电子产品
GJB 150.5A-2009
军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
检测项目:温度冲击试验
检测对象:电子产品
机载设备环境条件及试验方法 温度冲击 HB 5830.10-
机载设备环境条件及试验方法 温度冲击 HB 5830.10-
检测项目:温度冲击试验
检测对象:电子产品
机载雷达环境条件及试验方法 温度冲击试验 SJ 20115.3-
机载雷达环境条件及试验方法 温度冲击试验 SJ 20115.3-
检测项目:温度冲击试验
检测对象:电子产品
SC/T 7002.15-2019
渔船用电子设备环境试验条件和方法 温度冲击
检测项目:温度冲击试验
检测对象:电子产品
GJB 3758A-2019
航天器真空热试验热模拟方法
检测项目:热真空试验
检测对象:电子产品
GJB 1033A-2005
航天器热平衡试验方法
检测项目:热真空试验
检测对象:电子产品
QJ 2630.2A-2020
航天器组件空间环境试验方法 第2部分:热平衡试验
检测项目:热真空试验
检测对象:电子产品
舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-1983 2,3,
舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-1983 2,3,
检测项目:低温
检测对象:电子产品
QJ 2630.1B-2020
航天器组件空间环境试验方法 第1部分:热真空试验
检测项目:热真空试验
检测对象:电子产品
QJ 2630.3B-2020
航天器组件空间环境试验方法 第3部分:低气压放电和微放电试验
检测项目:热真空试验
检测对象:电子产品
GB/T 34522-2017
航天器热真空试验方法
检测项目:热真空试验
检测对象:电子产品
GB/T2423.57-2008
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ei:冲击 冲击响应谱合成
检测项目:冲击试验
检测对象:电子产品
SJ 20115.7-1992
机载雷达环境条件及试验方法 机械冲击试验
检测项目:冲击试验
检测对象:电子产品
GB/T2423.5-2019
环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击
检测项目:冲击试验
检测对象:电子产品
机载设备环境条件及试验方法 冲击 HB 5830.2-
机载设备环境条件及试验方法 冲击 HB 5830.2-
检测项目:冲击试验
检测对象:电子产品
机载设备环境条件及试验方法 低温 HB 5830.9-
机载设备环境条件及试验方法 低温 HB 5830.9-
检测项目:低温
检测对象:电子产品
GJB 150.18A-2009 程序I
军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验
检测项目:冲击试验
检测对象:电子产品
GJB 367A-2001 4.7.39
军用通信设备通用规范
检测项目:冲击试验
检测对象:电子产品
GJB 360B-2009 方法213
电子及电气元件试验方法
检测项目:冲击试验
检测对象:电子产品
GJB 150.18-1986
军用设备环境试验方法 冲击试验
检测项目:冲击试验
检测对象:电子产品
GB/T 17359-2023
微束分析 原子序数不小于11的元素 能谱定量分析法
检测项目:能谱分析
检测对象:材料
GJB 2502.9-2015
航天器热控涂层试验方法第9部分:原子氧试验
检测项目:原子氧试验
检测对象:材料
QJ 20422.2-2016
航天器组件环境试验方法第2部分
检测项目:原子氧试验
检测对象:材料