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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 61967”筛选，展示 3 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 61967-2:2005
集成电路-电磁发射的测量，150kHz ～ 1GHz -第2部分：辐射发射的测量-TEM小室和宽带 TEM （GTEM）小室法
检测项目：辐射发射
检测对象：集成电路
IEC 61967-4: 2021
集成电路—电磁发射的测量，150kHz-1GHz—第4部分：传导发射测量—1Ω/150Ω直接耦合法 4-
检测项目：传导发射（1Ω/150Ω直接耦合法）
检测对象：集成电路