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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电气和电子设备”筛选，展示 11 条相关能力。
按标准归类为 11 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 17626.2-2018
电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
检测项目：静电放电抗扰度
检测对象：电气和电子设备
GB/T 17626.3-2023
电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验
检测项目：射频电磁场辐射抗扰度
检测对象：电气和电子设备
GB/T 17626.4-2018
电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
检测项目：电快速瞬变脉冲群抗扰度
检测对象：电气和电子设备
GB/T 17626.5-2019
电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验
检测项目：浪涌（冲击）抗扰度
检测对象：电气和电子设备
GB/T 17626.6-2017
电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度
检测项目：射频场感应的传导骚扰抗扰度
检测对象：电气和电子设备
GB/T 17626.8-2006
电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验
检测项目：工频磁场抗扰度
检测对象：电气和电子设备
GB/T43034.3-2023
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法
检测项目：集成电路脉冲抗扰度
检测对象：电气和电子设备
IEC TS 61967-3:2014
集成电路--电磁辐射的测量--第3部分：放射辐射的测量--表面扫描法
检测项目：集成电路电磁发射
检测对象：电气和电子设备
IEC 62132-2：2010
集成电路--电磁抗扰度的测量--第2部分：辐射抗扰度的测量--TEM单元和宽带TEM单元方法
检测项目：集成电路辐射抗扰度
检测对象：电气和电子设备
IEC 61967-2：2005
集成电路150kHz-1GHz电磁辐射的测量第2部分：放射辐射的测量TEM 单元和宽带TEM单元方法
检测项目：集成电路电磁发射
检测对象：电气和电子设备
IEC 62132-4：2006
集成电路.150kHz-1GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法
检测项目：集成电路电磁抗扰度
检测对象：电气和电子设备