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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 40 条相关能力。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序
检测项目：稳定性烘焙、温度循环、恒定湿热、机械冲击试验、振动试验、粒子碰撞噪声检测、恒加速试验、盐雾试验 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
检测对象：电子及电气元件
检测对象：通用设备、电工电子产品
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
检测对象：半导体集成电路电压调整器
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序
检测项目：稳定性烘焙、温度循环、恒定湿热、粒子碰撞噪声检测、恒加速试验、盐雾试验、密封试验
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
检测对象：电子及电气元件
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
检测对象：半导体集成电路电压调整器
检测对象：通用设备、电工电子产品
GJB 548A-1996
微电子器件试验方法和程序 1009A
检测项目：恒定湿热、粒子碰撞噪声检测、恒加速试验、盐雾试验、密封试验
检测对象：电子及电气元件
检测对象：通用设备、电工电子产品