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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“半导体集成电路模拟开关”筛选，展示 11 条相关能力。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 14028-2018
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
检测项目：截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、导通电阻、导通电阻路差
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T 17574-1998
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 方法
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、静态条件下的电源电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：稳定性烘焙、温度循环
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：稳定性烘焙、温度循环
检测对象：半导体集成电路模拟开关