当前查看：中国电子科技集团公司第四十三研究所混合集成电路及电子元器件检测实验室
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 81 条相关能力。
按标准归类为 36 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：低气压、交变湿热、高温试验、盐雾、温度循环（空气-空气）、热冲击（液体-液体）、外部目检、物理尺寸 等 21 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：低气压、交变湿热、高温试验、盐雾、温度循环（空气-空气）、热冲击（液体-液体）、外部目检、物理尺寸 等 21 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法
检测项目：低气压、物理尺寸、热性能、静电放电敏感度、超声扫描检测、绝缘电阻
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1004A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1004A
检测项目：交变湿热
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1005.1、
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1005.1、
检测项目：老炼、寿命试验
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005.1、
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005.1、
检测项目：老炼、寿命试验
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1005A、1015A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1005A、1015A
检测项目：老炼、寿命试验
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1008A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1008A
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1009A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1009A
检测项目：盐雾
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1010A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1010A
检测项目：温度循环（空气-空气）
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1011A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1011A
检测项目：热冲击（液体-液体）
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1014.3条件A1、A2、C
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1014.3条件A1、A2、C
检测项目：密封
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1014.2条件A1、A2、C
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1014.2条件A1、A2、C
检测项目：密封
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1014A条件A1、A2、C
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1014A条件A1、A2、C
检测项目：密封
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2009A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2009A
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2015A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2015A
检测项目：耐溶剂性
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2002A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2002A
检测项目：机械冲击
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法2005.1、2006、2007、
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法2005.1、2006、2007、
检测项目：振动
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2005、2006、2007、
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2005、2006、2007、
检测项目：振动
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2005、2006、2007、
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2005、2006、2007、
检测项目：振动
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2001A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2001A
检测项目：恒定加速度
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2011A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2011A
检测项目：键合强度
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2019A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2019A
检测项目：芯片剪切强度
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2020A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2020A
检测项目：粒子碰撞噪声检测
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2003A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2003A
检测项目：可焊性
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法2004.3条件A、B1、B2、D
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法2004.3条件A、B1、B2、D
检测项目：引线牢固性
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2004.2条件A、B1、B2、D
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2004.2条件A、B1、B2、D
检测项目：引线牢固性
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2004A条件A、B1、B2、D
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2004A条件A、B1、B2、D
检测项目：引线牢固性
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2012A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2012A
检测项目：X射线照相
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法2010.2、2013、2014、2017.2、
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法2010.2、2013、2014、2017.2、
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2010.1、2013、2014、2017.1、
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2010.1、2013、2014、2017.1、
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2010A、2013、2014、2017A、
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2010A、2013、2014、2017A、
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1018.2程序
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1018.2程序
检测项目：内部水汽含量
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1018.1程序
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1018.1程序
检测项目：内部水汽含量
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1018程序
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1018程序
检测项目：内部水汽含量
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2018A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法2018A
检测项目：扫描电子显微镜（SEM)检查
检测对象：电子元器件