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上海集成电路技术与产业促进中心检测实验室

当前查看:上海集成电路技术与产业促进中心检测实验室

上海市 · 上海市

地址:上海市浦东新区蔡伦路1619弄1号403室

联系电话:-

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前展示该机构前 100 条能力;该机构共 341 条能力记录。

按标准归类为 4 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

Version 1.2.0 2008.10

860 MHz 至 960 MHz频率范围内的超高频射频识别协议EPC global Class-1 Gen-2; 1.2.0 -2008.10

26 项检测项目

检测项目:频率准确性、FM0占空比、FM0 前同步信号、密勒码(Miller)占空比、密勒码(Miller)前同步信号、反向散射期间的频率变化、链路同步定时参数T1、T2的最小值 等 26 项,点击展开全部

检测对象:UHF RFID读写器

频率准确性RF包络图功率上升时的RF包络

检测对象:UHF RFID标签

FM0占空比FM0 前同步信号密勒码(Miller)占空比密勒码(Miller)前同步信号反向散射期间的频率变化链路同步定时参数T1T2的最小值T2的典型值T2的最大值TID内存的内容“灭活 ”状态计算预写标签的CRC-16计算可改写标签的CRC-16协议控制(PC)的缺省值“准备就绪” 和“应答”状态“仲裁”状态“认收”状态“打开”状态“保护”状态从“认收”状态过渡到“保护”状态从“打开”状态过渡到“清除”状态从“保护”状态过渡到“清除”状态从“认收”状态过渡到“应答”状态

Version 1.0.6

860 MHz 至 960 MHz频率范围内的超高频射频识别一致性要求 EPC global Class-1 Gen-2; 1.0.6

25 项检测项目

检测项目:RF包络参数、FM0占空比、FM0 前同步信号、密勒码(Miller)占空比、密勒码(Miller)前同步信号、反向散射期间的频率变化、链路同步定时参数T1、T2的最小值 等 25 项,点击展开全部

检测对象:UHF RFID读写器

RF包络参数RF包络图功率上升时的RF包络

检测对象:UHF RFID标签

FM0占空比FM0 前同步信号密勒码(Miller)占空比密勒码(Miller)前同步信号反向散射期间的频率变化链路同步定时参数T1T2的最小值T2的典型值T2的最大值TID内存的内容“灭活 ”状态计算预写标签的CRC-16计算可改写标签的CRC-16协议控制(PC)的缺省值“准备就绪” 和“应答”状态“仲裁”状态“认收”状态“打开”状态“保护”状态从“认收”状态过渡到“保护”状态从“打开”状态过渡到“清除”状态从“保护”状态过渡到“清除”状态

ISO/IEC 18047-6:2017

信息技术.射频识别装置合格试验方法 第6部分:860至960MHz空中接口通信的试验方法

25 项检测项目

检测项目:解调能力、FM0占空比、FM0 前同步信号、密勒码(Miller)占空比、密勒码(Miller)前同步信号、RF包络参数、反向散射期间的频率变化、链路同步定时参数T1 等 25 项,点击展开全部

检测对象:UHF RFID标签

解调能力FM0占空比FM0 前同步信号密勒码(Miller)占空比密勒码(Miller)前同步信号反向散射期间的频率变化链路同步定时参数T1T2的最小值T2的典型值T2的最大值TID内存的内容“灭活 ”状态计算预写标签的CRC-16计算可改写标签的CRC-16协议控制(PC)的缺省值“准备就绪” 和“应答”状态“仲裁”状态“认收”状态“打开”状态“保护”状态从“认收”状态过渡到“保护”状态从“打开”状态过渡到“清除”状态从“保护”状态过渡到“清除”状态

检测对象:UHF RFID读写器

RF包络参数RF包络图

ISO/IEC 18000-63:2021

信息技术.项目管理的射频识别.第63部分:860至960MHz的空中接口Type C参数;

24 项检测项目

检测项目:FM0占空比、FM0 前同步信号、RF包络参数、密勒码(Miller)占空比、密勒码(Miller)前同步信号、反向散射期间的频率变化、链路同步定时参数T1、T2的最小值 等 24 项,点击展开全部

检测对象:UHF RFID标签

FM0占空比FM0 前同步信号密勒码(Miller)占空比密勒码(Miller)前同步信号反向散射期间的频率变化链路同步定时参数T1T2的最小值T2的典型值T2的最大值TID内存的内容“灭活 ”状态计算预写标签的CRC-16计算可改写标签的CRC-16协议控制(PC)的缺省值“准备就绪” 和“应答”状态“仲裁”状态“认收”状态“打开”状态“保护”状态从“认收”状态过渡到“保护”状态从“打开”状态过渡到“清除”状态从“保护”状态过渡到“清除”状态

检测对象:UHF RFID读写器

RF包络参数RF包络图

机构信息

机构名称

上海集成电路技术与产业促进中心检测实验室

所在地区

上海市 · 上海市

企业地址

上海市浦东新区蔡伦路1619弄1号403室

法定代表人

陆斐

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