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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 31 条相关能力。
按标准归类为 31 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1001 低气压（高空工作）
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1001 低气压（高空工作）
检测项目：低气压（高度）试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 1001 低气压（高空工作）
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 1001 低气压（高空工作）
检测项目：低气压（高度）试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1004.1 耐湿试验
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1004.1 耐湿试验
检测项目：交变湿热试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法1004.7 耐湿试验
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法1004.7 耐湿试验
检测项目：交变湿热试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1004.1耐湿
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1004.1耐湿
检测项目：交变湿热试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1 温度循环
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1 温度循环
检测项目：温度变化试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法1010.8 温度循环
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法1010.8 温度循环
检测项目：温度变化试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1004.1耐湿试验
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1004.1耐湿试验
检测项目：交变湿热试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1010.1温度循环
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1010.1温度循环
检测项目：温度变化试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1009.2 盐雾(盐气)
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1009.2 盐雾(盐气)
检测项目：盐雾试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 1004.1耐湿试验
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 1004.1耐湿试验
检测项目：交变湿热试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法1009.8 盐雾试验
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法1009.8 盐雾试验
检测项目：盐雾试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1009.2盐雾
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1009.2盐雾
检测项目：盐雾试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2005 振动疲劳；方法2007 扫频振动；方法2026.1 随机振动
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2005 振动疲劳；方法2007 扫频振动；方法2026.1 随机振动
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法 1004.7 耐湿试验
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法 1004.7 耐湿试验
检测项目：交变湿热试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法2005.2 振动疲劳 方法2007.3 变频振动
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法2005.2 振动疲劳 方法2007.3 变频振动
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2005.1振动疲劳；方法2007 扫频振动；方法2026.1 随机振动
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2005.1振动疲劳；方法2007 扫频振动；方法2026.1 随机振动
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2002.1 机械冲击
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2002.1 机械冲击
检测项目：冲击试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法2002.5 机械冲击
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法2002.5 机械冲击
检测项目：冲击试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2002.1机械冲击
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2002.1机械冲击
检测项目：冲击试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1001 低气压（高空工作）
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1001 低气压（高空工作）
检测项目：低气压（高度）试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1001低气压（高空工作）
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1001低气压（高空工作）
检测项目：低气压（高度）试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1010.1 温度循环
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1010.1 温度循环
检测项目：温度变化试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 1010.1 温度循环
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 1010.1 温度循环
检测项目：温度变化试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法 1010.8 温度循环
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法 1010.8 温度循环
检测项目：温度变化试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1009.2 盐雾(盐气)
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1009.2 盐雾(盐气)
检测项目：盐雾试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 1009.2 盐雾
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 1009.2 盐雾
检测项目：盐雾试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法 1009.8 盐雾试验
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法 1009.8 盐雾试验
检测项目：盐雾试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 2005 振动疲劳；方法 2007 扫频振动；方法 2026.1 随机振动
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 2005 振动疲劳；方法 2007 扫频振动；方法 2026.1 随机振动
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 2005 振动疲劳；方法 2007 扫频振动；方法 2026.1 随机振动
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 2005 振动疲劳；方法 2007 扫频振动；方法 2026.1 随机振动
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品与专用设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法2005.2 振动疲劳 方法 2007.3 变频振动
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L：2019 方法2005.2 振动疲劳 方法 2007.3 变频振动
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品与专用设备