上海航天精密机械研究所试验与检测中心

GB/T 2423.2-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

GB/T 2423.1-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温

GB/T 2423.3-2016

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验

GB/T 2423.4-2008

电工电子产品基本环境试验规程 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热试验

GB/T 2423.22-2012

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化

GB/T 2423.21-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M：低气压

GB/T 2423.5-2019

环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击

GJB150.3A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验

GJB 4.2-1983

舰船电子设备环境试验 高温试验

GJB150.4A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验

GJB 4.3-1983

舰船电子设备环境试验 低温试验

GJB 4.4-1983

舰船电子设备环境试验 低温储存试验

GJB150.9A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第9部分:湿热试验

GJB 4.5-1983

舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验

GJB 4.6-1983

舰船电子设备环境试验 交变湿热试验

GJB150.16A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第16部分:振动试验

GB/T 2423.10-2019

环境试验 第2部分：试验方法 试验fc：振动（正弦）

GB/T 2423.56-2023

环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则

GJB 4.7-1983

舰船电子设备环境试验 振动试验

GJB 1027A-2020

运载器、上面级和航天器试验要求

GJB150.18-1986

军用设备环境试验方法 冲击试验

GJB150.18A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验

GJB 4.8-1983

舰船电子设备环境试验 颠震试验

GJB 150.5A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验

QJ 1177.5-1987

地空、舰空导弹武器系统环境试验方法 温度冲击试验

GJB 1032-1990

电子产品环境应力筛选方法

GJB 1032A-2020

电子产品环境应力筛选方法

GJB 150.2A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压(高度)试验

GJB 150.6-1986

军用设备环境试验方法 温度－高度试验

GB/T 2423.27-2020

环境试验 第2部分：试验方法和导则：温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验

GJB 899A-2009

可靠性鉴定与验收试验

GJB 150.24A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第24部分：温度-湿度-振动-高度试验