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2026-05-12
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按标准归类为 28 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出电压、输出电流、输出纹波电压、电压调整率、电流调整率、交叉调整率、输入电流、输出电压温度系数 等 16 项，点击展开全部
检测对象：电源模块
固体继电器通用规范 GJB1515B-2017
固体继电器通用规范 GJB1515B-2017
检测项目：绝缘电阻、介质耐压、输入电流、输入接通电压、输入关断电压、输出电压降、输出漏电流、接通时间 等 10 项，点击展开全部
检测对象：固体继电器
GB/T 14028-2018
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：导通电阻、截止态漏极漏电流、导通态漏电流、截止态源极漏电流、导通电阻路差、开启时间、关断时间
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T 4586-1994
半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 第IV章
检测项目：栅极截止电流或栅极漏泄电流、漏极截止电流、栅-源阈值电压、小信号短路正向跨导、静态漏-源通态电阻、漏-源通态电压
检测对象：场效应晶体管
GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、静态条件下的电源电流、功能测试
检测对象：存储器
线绕式预调电位器通用规范 GJB 917A-2011
线绕式预调电位器通用规范 GJB 917A-2011
检测项目：总阻值、终端电阻、电气连续性、绝缘电阻、介质耐电压
检测对象：线绕预调电位器
GB/T 4587-2023
半导体器件和集成电路第7部分：双极型晶体管
检测项目：集电极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、发射极-基极截止电流(直流法）、集电极-发射极饱和电压、基极-发射极饱和电压
检测对象：双极型晶体管
非线绕预调电位器通用规范 GJB 918A-2011
非线绕预调电位器通用规范 GJB 918A-2011
检测项目：总阻值、终端电阻、绝缘电阻、介质耐电压
检测对象：非线绕预调电位器
GB/T 8554-1998
电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序
检测项目：外观检查、绕组的直流电阻、品质因数、有效电感
检测对象：变压器和电感器
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目：失调误差、零点误差、数字输出高电平电压、数字输出低电平电压
检测对象：集成电路A/D 、D/A转换器
有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-1999
有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-1999
检测项目：目检和机械检查、规定的动作值（电压）、规定的释放值（电压）、动作和释放时间
检测对象：电磁继电器
GB/T 4023-2015
半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：正向电压、雪崩和可控雪崩整流二极管的击穿电压、反向电流
检测对象：二极管
GB/T 6571-1995
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章第1节
检测项目：正向电压、反向电流、工作电压
检测对象：信号（包括开关）和调整二极管
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021
检测项目：正向电压V<Sub>F</Sub>、反向电流I<Sub>R</Sub>、集电极-发射极击穿电压V<Sub>CEO</Sub>
检测对象：光电耦合器
GJB 152A-1997
军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 5 方法 CS
检测项目：25Hz～150kHz电源线传导敏感度测试CS101、10kHz～100MHz电缆和电源线阻尼瞬变传导敏感度测试CS116
检测对象：专用设备和分系统
GJB 151B-2013
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量
检测项目：25Hz～150kHz电源线传导敏感度测试CS101、10kHz～100MHz电缆和电源线阻尼瞬变传导敏感度测试CS116
检测对象：专用设备和分系统
石英晶体元件通用规范 GJB 2138A-2015
石英晶体元件通用规范 GJB 2138A-2015
检测项目：目检和机械检查、频率和等效电阻
检测对象：石英晶体谐振器
压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015
压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015
检测项目：外观和机械检查、压敏电压
检测对象：压敏电阻器
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.15,
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.15,
检测项目：数字输入高电平电流、数字输入低电平电流
检测对象：集成电路A/D 、D/A转换器
GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法
检测项目：电流传输比、集电极-发射极饱和电压
检测对象：光电耦合器
GB/T 7965-2002
声学 水声换能器测量 6.1.1.2,
检测项目：自由场电压灵敏度级
检测对象：水声换能器
GB/T 6346.1-2024
电子设备用固定电容器 第1部分：总规范
检测项目：耐久性
检测对象：电容器
膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络的通用规范 GJB 920A-2002
膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络的通用规范 GJB 920A-2002
检测项目：直流电阻
检测对象：电阻网络
040606
非线绕预调电位器通用规范 GJB 918A-2011
检测项目：接触电阻变化
检测对象：非线绕预调电位器
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目：漏-源击穿电压
检测对象：场效应晶体管
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.3,
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.3,
检测项目：增益误差
检测对象：集成电路A/D 、D/A转换器
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.5,
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.5,
检测项目：线性误差
检测对象：集成电路A/D 、D/A转换器
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.9,
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.9,
检测项目：功耗
检测对象：集成电路A/D 、D/A转换器