当前查看：中国航天标准化研究所航天产品可靠性与质量检测试验室
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 11 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：外部目检、X 射线检查、粒子碰撞噪声检测(PIND)、内部目检、键合强度、剪切强度
检测对象：微电子器件
GJB128B-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：X 射线检查、粒子碰撞噪声检测(PIND)、内部目检、键合强度、剪切强度
检测对象：半导体分立器件