当前查看：中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室
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2026-05-12
当前展示该机构前 100 条能力；该机构共 109 条能力记录。
按标准归类为 20 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：外部目检、X射线照相、低气压试验、耐湿、老炼、稳态寿命、稳定性烘焙、温度循环 等 16 项，点击展开全部
检测对象：微电子及半导体器件
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
检测项目：外部目检、低气压试验、耐湿、稳态寿命、稳定性烘焙、温度循环、热冲击、密封 等 12 项，点击展开全部
检测对象：微电子及半导体器件
GB/T17574-1998
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、电源电流 等 11 项，点击展开全部
检测对象：CMOS和TTL数字集成电路
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：随机振动、X射线照相、耐湿、老炼、稳态寿命、温度循环、热冲击、密封 等 10 项，点击展开全部
检测对象：微电子及半导体器件
GB/T 17940-2000
半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路
检测项目：静态电源电流、输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、开环电压放大倍数、共模抑制比、电源电压抑制比
检测对象：运算放大器比较器
GB/T4587-1994
半导体分立器件和集成电路 第七部分：双极型晶体管
检测项目：集电极—基极截止电流、发射极—基极截止电流、集电极—发射极截止电流、集电极—发射极饱和电压、共发射极正向电流传输比(静态)、集电极—基极击穿电压、发射极—基极击穿电压
检测对象：晶体三极管
GB/T4377-2018
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项目：电压调整率、电流调整率、电源纹波抑制比、短路电流、基准电压、输出电压
检测对象：电压调整器
GB/T14028-2018
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
检测项目：截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、导通电阻、导通电阻路差、开启时间、关断时间
检测对象：模拟开关
GB/T 4586-1994
半导体器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：漏极截止电流、栅源截止电流、栅源阈值电压、静态漏源通态电阻、小信号短路正向跨导、正向电压
检测对象：场效应晶体管（增强型）
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：低气压试验、直流电阻、电容量、品质因数 Q
检测对象：微电子及半导体器件
检测对象：固定电阻器
检测对象：固定电容器
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、电源电流
检测对象：模拟开关
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
检测项目：正向电压、反向漏电流、二极管特性曲线
检测对象：半导体二极管
GB/T15298-1994
电子设备用电位器 第一部分：总规范
检测项目：电阻体阻值、终端电阻
检测对象：电位器
运载器、上面级和航天器试验要求 GJB1027A-2005
运载器、上面级和航天器试验要求 GJB1027A-2005
检测项目：热真空试验
检测对象：电子组件
航天器组件空间环境试验方法 第1部分：热真空试验 QJ2630.1A-
航天器组件空间环境试验方法 第1部分：热真空试验 QJ2630.1A-
检测项目：热真空试验
检测对象：电子组件
GB/T5729-2003
电子设备用固定电阻器第1部分:总规范
检测项目：直流电阻
检测对象：固定电阻器
GB/T8554-1998
电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序
检测项目：电感量
检测对象：固定电感器
电子及电气元件试验方法 GJB360B-
电子及电气元件试验方法 GJB360B-
检测项目：品质因数 Q
检测对象：固定电感器
GB/T6346.1-2024
电子设备用固定电容器 第1部分：总规范
检测项目：电容量
检测对象：固定电容器
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法1038，方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法1038，方法
检测项目：老炼
检测对象：微电子及半导体器件