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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选,展示 16 条相关能力。
按标准归类为 6 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目:稳定性烘焙、密封性检测、温度循环、粒子碰撞噪声检测、外部目检
检测对象:微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目:稳定性烘焙、密封性检测、温度循环、粒子碰撞噪声检测、外部目检
检测对象:微电子器件
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L:2019 方法
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L:2019 方法
检测项目:稳定性烘焙、温度循环、外部目检
检测对象:微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005.1、
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005.1、
检测项目:老炼试验
检测对象:微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1005.1、
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1005.1、
检测项目:老炼试验
检测对象:微电子器件
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L:2019 方法1005.9、
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L:2019 方法1005.9、
检测项目:老炼试验
检测对象:微电子器件