中船西安东仪科工集团有限公司可靠性试验检测中心

混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997/

混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997/

电连接器试验方法 GJB1217A-2009 方法

电连接器试验方法 GJB1217A-2009 方法

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997/

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997/

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法

GB/T4587-1994

半导体分立器件和集成电路 第七部分第4章：双极型晶体管 /

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法：

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法：

半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996/

半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996/

GB/T4587-1994/ 10.2

半导体分立器件和集成电路 第七部分第4章：双极型晶体管

机载设备环境条件和试验程序 第4章 RTCA/DO-160G-

机载设备环境条件和试验程序 第4章 RTCA/DO-160G-

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法:

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法:

军用装备实验室环境试验方法 第4部分： 低温试验 GJB150.4A-

军用装备实验室环境试验方法 第4部分： 低温试验 GJB150.4A-

GB/T2423.1-2008

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A：低温

军用设备环境试验方法 低温试验 GJB150.4-

军用设备环境试验方法 低温试验 GJB150.4-

舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-

舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-

舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-

舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分： 高温试验 GJB150.3A-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分： 高温试验 GJB150.3A-

GB/T2423.2-2008

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验B：高温

军用设备环境试验方法 高温试验 GJB150.3-

军用设备环境试验方法 高温试验 GJB150.3-

舰船电子设备环试验 高温试验 GJB 4.2-

舰船电子设备环试验 高温试验 GJB 4.2-

军用装备实验室环境试验方法 第9部分： 湿热试验 GJB150.9A-

军用装备实验室环境试验方法 第9部分： 湿热试验 GJB150.9A-

GB/T2423.3-2016

环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验

GB/T2423.4-2008

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h + 12h循环)

军用设备环境试验方法 湿热试验 GJB150.9-

军用设备环境试验方法 湿热试验 GJB150.9-

电子及电子元件试验方法 GJB360B-2009 方法103 稳态湿热

电子及电子元件试验方法 GJB360B-2009 方法103 稳态湿热

舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验 GJB 4.5-

舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验 GJB 4.5-

舰船电子设备环境试验 交变湿热试验 GJB 4.6-

舰船电子设备环境试验 交变湿热试验 GJB 4.6-

军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB150.18A-

军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB150.18A-

GB/T2423.5-2019

环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击

军用设备环境试验方法 冲击 试验 GJB150.18-

军用设备环境试验方法 冲击 试验 GJB150.18-

电子及电子元件试验方法 GJB 360B-2009 方法213 冲击（规定脉冲）试验

电子及电子元件试验方法 GJB 360B-2009 方法213 冲击（规定脉冲）试验

军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验 GJB150.16A-

军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验 GJB150.16A-

GB/T2423.10-2019

环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc和导则： 振动（正弦）

军用设备环境试验方法 振动试验 GJB150.16-

军用设备环境试验方法 振动试验 GJB150.16-

电子及电子元件试验方法 GJB 360B-2009 方法201 低频振动试验

电子及电子元件试验方法 GJB 360B-2009 方法201 低频振动试验

舰船电子设备环境试验 振动试验 GJB 4.7-

舰船电子设备环境试验 振动试验 GJB 4.7-

军用装备实验室环境试验方法 第15部分：加速度试验 GJB150.15A-

军用装备实验室环境试验方法 第15部分：加速度试验 GJB150.15A-

GB/T2423.15-2008

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法：试验Ga和导则： 稳态加速度

军用设备环境试验方法 加速度试验 GJB150.15-

军用设备环境试验方法 加速度试验 GJB150.15-

电子及电子元件试验方法 GJB 360B-2009 方法212 稳态加速度试验

电子及电子元件试验方法 GJB 360B-2009 方法212 稳态加速度试验

军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验 GJB150.5A-

军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验 GJB150.5A-

GB/T2423.22-2012

环境试验第2部分：试验方法 试验N： 温度变化

军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB150.5-

军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB150.5-

电子及电子元件试验方法 GJB360B-2009 方法107 温度冲击试验

电子及电子元件试验方法 GJB360B-2009 方法107 温度冲击试验

电子产品环境应力筛选方法 GJB1032-

电子产品环境应力筛选方法 GJB1032-

电子产品环境应力筛选方法 GJB1032A-

电子产品环境应力筛选方法 GJB1032A-

可靠性鉴定与验收试验 GJB899A-

可靠性鉴定与验收试验 GJB899A-

军用装备实验室环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB 150.2A-

军用装备实验室环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB 150.2A-

GB/T2423.21-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M:低气压 第2部分

军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB 150.2-

军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB 150.2-

电子及电子元件试验方法 GJB 360B-2009 方法105低气压试验

电子及电子元件试验方法 GJB 360B-2009 方法105低气压试验

军用装备实验室环境试验方法 温度-湿度-高度-振动 GJB 150.24A-

军用装备实验室环境试验方法 温度-湿度-高度-振动 GJB 150.24A-

军用设备环境试验方法 温度-湿度-高度 GJB150.19-

军用设备环境试验方法 温度-湿度-高度 GJB150.19-

GB/T2423.27-2020

环境试验 第2部分：试验方法 试验方法和导则：温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验

军用设备环境试验方法 温度-高度 GJB150.6-

军用设备环境试验方法 温度-高度 GJB150.6-

军用装备实验室环境试验方法 盐雾试验 GJB150.11A-

军用装备实验室环境试验方法 盐雾试验 GJB150.11A-

军用设备环境试验方法 盐雾试验 GJB150.11-

军用设备环境试验方法 盐雾试验 GJB150.11-

GB/T2423.17-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka 盐雾

电子及电子元件试验方法 GJB 360B-2009 方法101盐雾试验

电子及电子元件试验方法 GJB 360B-2009 方法101盐雾试验

机载设备环境条件及试验方法低气压（高度） HB5830-14-

机载设备环境条件及试验方法低气压（高度） HB5830-14-