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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子及电气元件”筛选，展示 14 条相关能力。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996
电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996
检测项目：温度循环、老炼试验、粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：元器件筛选、分析
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
检测项目：温度循环、老炼试验、粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：元器件筛选、分析
电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 方法
检测项目：X射线照相、可焊性
检测对象：元器件筛选、分析
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：可焊性、引出端强度
检测对象：元器件筛选、分析
电子及电气元件试验方法 GJB360B-
电子及电气元件试验方法 GJB360B-
检测项目：密封
检测对象：元器件筛选、分析
电子及电气元件试验方法 GJB360A-96 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360A-96 方法
检测项目：密封
检测对象：元器件筛选、分析
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：X射线照相
检测对象：元器件筛选、分析
电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 方法211方法
电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 方法211方法
检测项目：引出端强度
检测对象：元器件筛选、分析