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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 29 条相关能力。
按标准归类为 15 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：老炼试验、X射线照相、声学显微镜检测、外观检查、键合强度、剪切强度、扫描电子显微镜检查、玻璃钝化层完整性检查 等 10 项，点击展开全部
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项目：密封、稳定性烘焙、温度循环、粒子碰撞噪声检测试验、恒定加速度
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法
检测项目：声学显微镜检测、玻璃钝化层完整性检查
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 1014A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 1014A
检测项目：密封
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 1008A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 1008A
检测项目：稳定性烘焙
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 1010A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 1010A
检测项目：温度循环
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 1015A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 1015A
检测项目：老炼试验
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 2020A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 2020A
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 2001A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 2001A
检测项目：恒定加速度
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2012A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2012A
检测项目：X射线照相
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996方法2018A 方法2018A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996方法2018A 方法2018A
检测项目：扫描电子显微镜检查
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2010A、方法2013、方法2014、方法2017A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2010A、方法2013、方法2014、方法2017A
检测项目：内部目检
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2010.1、方法2013、方法2014、方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2010.1、方法2013、方法2014、方法
检测项目：内部目检
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2003A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2003A
检测项目：可焊性
检测对象：元器件筛选、分析
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2004A
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2004A
检测项目：引出端强度
检测对象：元器件筛选、分析