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数据更新时间
2026-05-12
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按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 60747-8:2021
半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体
检测项目：漏-源击穿电压、（静态）漏-源通态电阻、栅源阈值电压、漏极漏电流、栅极漏电流、漏-源反向电压
检测对象：场效应晶体管
IEC 60747-2:2025
半导体器件 第2部分:分立器件-整流二极管
检测项目：容性电荷、反向漏电流、击穿电压、正向电压
检测对象：二极管
JEDEC JESD22-A108G-2022
温度,偏压,和工作寿命试验
检测项目：高温反偏试验、高温栅偏试验
检测对象：半导体器件
MIL-STD-750-1Bw/CHANGE 2-2023
半导体器件环境试验方法第 1 部分:试验方法 1000 至 1999 方法
检测项目：高温反偏试验
检测对象：半导体器件
AQG 324-2025
汽车电力电子转换单元的功率模块认证
检测项目：高温反偏试验
检测对象：半导体器件
JEDEC JESD22-B101D-2022
外部目检测试
检测项目：外部目检
检测对象：半导体器件