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上海维安电子股份有限公司测试中心

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地址:上海市虹口区柳营路125号8楼806室

联系电话:021-50310888

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前展示该机构前 41 条能力;该机构共 41 条能力记录。

按标准归类为 18 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

AEC-Q200-004 REV A:2000

自恢复保险丝的测量程序

7 项检测项目

检测项目:短路失效电流持久性、故障电流耐久性、电阻测试、寿命终止模式验证、快速启动耐力、动作时间测试、最大不动作电流(保持电流)测试

检测对象:PTC自恢复保险丝

短路失效电流持久性故障电流耐久性电阻测试寿命终止模式验证快速启动耐力动作时间测试最大不动作电流(保持电流)测试

AEC-Q200-REV E:2023

无源器件应力鉴定测试 表14,No.

6 项检测项目

检测项目:振动、短路失效电流持久性、故障电流耐久性、寿命终止模式验证、快速启动耐力、外观检查

检测对象:PTC自恢复保险丝

振动短路失效电流持久性故障电流耐久性寿命终止模式验证快速启动耐力外观检查

IEC 60747-8:2021

半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

6 项检测项目

检测项目:漏-源击穿电压、栅极阈值电压、漏极漏电流、栅极漏电流、漏-源通态电阻、漏-源反向电压

检测对象:半导体器件

漏-源击穿电压栅极阈值电压漏极漏电流栅极漏电流漏-源通态电阻漏-源反向电压

GB/T 7153-2002

直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器 第1部分:总规范

5 项检测项目

检测项目:电阻测试、物理尺寸、动作时间测试、最大不动作电流(保持电流)测试、外观检查

检测对象:PTC自恢复保险丝

电阻测试物理尺寸动作时间测试最大不动作电流(保持电流)测试外观检查

JESD22-A108G:2022

温度、偏置和工作寿命

2 项检测项目

检测项目:高温栅偏、高温反偏

检测对象:半导体器件

高温栅偏高温反偏

JESD210A:2017

雪崩击穿二极管(ABD)瞬态电压抑制器

2 项检测项目

检测项目:击穿(雪崩)电压V(BR)、待机电流(ID)或阻断漏电流(IIB)

检测对象:半导体器件

击穿(雪崩)电压V(BR)待机电流(ID)或阻断漏电流(IIB)

AEC-Q200-REV-E:2023

无源器件应力鉴定测试 表14,No.

1 项检测项目

检测项目:物理尺寸

检测对象:PTC自恢复保险丝

物理尺寸

JESD22-B100B:2003

物理尺寸

1 项检测项目

检测项目:物理尺寸

检测对象:PTC自恢复保险丝

物理尺寸

MIL-STD-202-204:2015

电子及电气元件试验方法

1 项检测项目

检测项目:振动

检测对象:PTC自恢复保险丝

振动

JESD22-A101D.01:2021

稳态温湿度偏置寿命试验

1 项检测项目

检测项目:稳态温湿度偏置寿命试验

检测对象:半导体器件

稳态温湿度偏置寿命试验

JESD22-A102E:2015(R2021)

加速湿度抵抗-无偏置高压蒸煮试验

1 项检测项目

检测项目:高压蒸煮

检测对象:半导体器件

高压蒸煮

JESD22-A103E.01:2021

高温存储寿命

1 项检测项目

检测项目:高温存储寿命

检测对象:半导体器件

高温存储寿命

MIL-STD-750-1B:2022

国防部测试方法标准半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000至1999 1038.5条件A

1 项检测项目

检测项目:高温反偏

检测对象:半导体器件

高温反偏

JESD22-A110E.01:2021

高加速温度和湿度应力试验(HAST)

1 项检测项目

检测项目:高加速应力试验

检测对象:半导体器件

高加速应力试验

JESD22-A118B.01:2021

加速湿度抵抗-无偏置高加速应力试验

1 项检测项目

检测项目:无偏置高加速应力试验

检测对象:半导体器件

无偏置高加速应力试验

JESD22-B100B:2003(R2021)

物理尺寸

1 项检测项目

检测项目:物理尺寸

检测对象:半导体器件

物理尺寸

JESD22-B101D:2022

外观检查

1 项检测项目

检测项目:外观检查

检测对象:半导体器件

外观检查

MIL-STD-883-2:2022

微电路国防部测试方法标准

1 项检测项目

检测项目:外观检查

检测对象:PTC自恢复保险丝

外观检查

机构信息

机构名称

上海维安电子股份有限公司测试中心

所在地区

上海市 · 上海市

企业地址

上海市虹口区柳营路125号8楼806室

法定代表人

王军

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