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数据更新时间
2026-05-12
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按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 60747-8:2010+AMD1:2021 CSV
半导体器件 分立器件 第8部分: 场效应晶体管
检测项目：共源极短路输入电容、共源极短路输出电容、共源极短路反馈电容、栅-源阈值电压、高温栅极偏置、高温反向偏置、漏-源通态电阻、漏极漏电流 等 10 项，点击展开全部
检测对象：场效应晶体管
检测对象：功率器件
GB/T 4586-1994
半导体器件 分立器件 第8部分: 场效应晶体管 第IV章第6节
检测项目：栅-源阈值电压、共源极短路输入电容、共源极短路输出电容、共源极短路反馈电容、漏-源通态电阻、漏极漏电流、栅极漏电流
检测对象：场效应晶体管
GB/T 4023-2015
半导体器件：分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：正向电压、反向电流
检测对象：二极管
IEC 60747-2 Ed 3.0 :2016
半导体器件：分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：正向电压、反向电流
检测对象：二极管
JESD 22-A108G:2022
温度、 偏差和使用寿命
检测项目：高温栅极偏置、高温反向偏置
检测对象：功率器件
GJB128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法1042
检测项目：高温栅极偏置、高温反向偏置
检测对象：功率器件