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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 16 条相关能力。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：温度循环、老炼、稳态寿命、外部目检和外观、物理尺寸、声学扫描显微镜检查、X 射线检查
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：温度循环、老炼、稳态寿命、外部目检和外观、物理尺寸、声学扫描显微镜检查、X 射线检查
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1008.1 3 试验条件 A、B、C
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1008.1 3 试验条件 A、B、C
检测项目：高温存储
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 1008.1 3 试验条件 A、B、C
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 1008.1 3 试验条件 A、B、C
检测项目：高温存储
检测对象：电子元器件