当前查看：瑶芯微上海电子科技股份有限公司检测实验室
上海市
数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 8 条能力；该机构共 8 条能力记录。
按标准归类为 7 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JESD22-A108G：2022
温度、偏置和工作寿命
检测项目：高温反向偏置、高温栅极偏置
检测对象：半导体器件
JESD22-A102E：2015 R2021
加速耐潮湿性-无偏置高压蒸煮
检测项目：无偏置高压蒸煮试验
检测对象：半导体器件
JESD22-A101D.01：2021
稳态温湿度偏置寿命试验
检测项目：稳态温湿度偏置寿命试验
检测对象：半导体器件
JESD22-A104F.01：2023
温度循环
检测项目：温度循环
检测对象：半导体器件
JESD22-A110E.01：2021
高加速温湿度应力试验(HAST)
检测项目：高加速稳态湿热试验
检测对象：半导体器件
JESD22-A118B.01：2021
加速耐湿性-无偏压HAST
检测项目：加速耐湿性-无偏压HAST
检测对象：半导体器件
MIL-STD-750F：2012
间歇工作寿命 M
检测项目：间歇工作寿命实验
检测对象：半导体器件