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2026-05-12
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GB/T 5095.2-1997
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验
检测项目：外形尺寸、重量、细部尺寸
检测对象：电子设备用机电元件
GB/T 4023-2015
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：正向电压、反向电流
检测对象：整流二极管
GB/T 4586-1994
半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：漏极电流、栅-源阈值电压
检测对象：场效应晶体管
GB/T 36969-2018
纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法
检测项目：薄膜厚度
检测对象：薄膜
JESD22-B100B June 2003
物理尺寸
检测项目：物理尺寸
检测对象：微电子器件
GB/T 33826-2017
玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法
检测项目：薄膜厚度
检测对象：薄膜
GB/T 11378-2005
金属覆盖层 覆盖层厚度测量 轮廓仪法
检测项目：薄膜厚度
检测对象：薄膜
GB/T 31227-2014
原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
检测项目：表面粗糙度
检测对象：薄膜
GB/T 29505-2013
硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
检测项目：表面粗糙度
检测对象：硅片
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：物理尺寸
检测对象：微电子器件