当前查看：乐山希尔电子股份有限公司检测中心
四川省 · 乐山市
地址：乐山市高新区南新东路3号
联系电话：0833-2595828
数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 17 条能力；该机构共 17 条能力记录。
按标准归类为 15 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 4023-2015
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：正向浪涌、正向电压
检测对象：半导体分立器件
MIL-STD-750F:2012
半导体测试标准
检测项目：正向浪涌、正向电压
检测对象：半导体分立器件
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A110E.01
半导体器件可靠性测试标准
检测项目：高加速应力
检测对象：半导体分立器件
JESD22-A101D.01
半导体器件可靠性测试标准
检测项目：高温高湿反向偏压
检测对象：半导体分立器件
JESD22-A118B.01
半导体器件可靠性测试标准
检测项目：无偏压高加速应力
检测对象：半导体分立器件
JESD22-A102E
半导体器件可靠性测试标准
检测项目：高压蒸煮
检测对象：半导体分立器件
JESD22-A104F.01
半导体器件可靠性测试标准
检测项目：温度循环
检测对象：半导体分立器件
MIL-STD-750F Method 1037
半导体测试标准
检测项目：间隙老化
检测对象：半导体分立器件
MIL-STD-750-1 M1038
半导体测试标准
检测项目：高温反向偏压
检测对象：半导体分立器件
JESD22-A108G
半导体器件可靠性测试标准
检测项目：高温栅偏
检测对象：半导体分立器件
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
检测项目：低温试验
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.3-2016
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
检测项目：恒定湿热
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.22-2012
环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
检测项目：温度变化
检测对象：电子元器件
JESD22-A113I
半导体器件可靠性测试标准
检测项目：预处理
检测对象：半导体分立器件