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数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 19 条能力；该机构共 19 条能力记录。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：温度循环、粒子碰撞噪声检测、密封、恒定加速度、外部目检、稳定性烘焙（高温试验）、老炼、稳态寿命试验
检测对象：集成电路
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测、密封、恒定加速度、外部目检、温度循环、稳定性烘焙（高温试验）、老炼、稳态寿命试验
检测对象：集成电路
JESD22-A108G:2022
温度、偏置、寿命试验
检测项目：稳态寿命试验
检测对象：集成电路
JESD22-B101D:2022
外部目检
检测项目：外部目检
检测对象：集成电路
JESD22-A104F.01:2023
温度循环
检测项目：温度循环
检测对象：集成电路