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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 61967”筛选,展示 1 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
SAEJ1752-3:2017/IEC 61967-2:2005
Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits
检测项目:辐射发射测试
检测对象:集成电路