当前查看：湖南三安半导体有限责任公司试验与分析中心
湖南省
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“GB/T 2423.1-2008”筛选，展示 1 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
检测项目：低温存储试验
检测对象：半导体分立器件