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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 61967”筛选，展示 2 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 61967-2:2005
集成电路 150kHz 至 1GHz 电磁发射的测量 第2部分:辐射发射的测量 TEM 小室和宽带TEM 小室法
检测项目：集成电路-辐射发射RE-TEM小室法
检测对象：电子元器件
IEC 61967-4:2021
集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法
检测项目：集成电路-传导发射CE -1Ω/150Ω直接耦合法
检测对象：电子元器件