当前查看：中国科学院上海光学精密机械研究所宇航光电器件可靠性验证与试验中心
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数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 59 条能力；该机构共 59 条能力记录。
按标准归类为 11 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 31359-2015
半导体激光器测试方法
检测项目：峰值波长、谱宽度、平均功率、脉冲能量、输出功率不稳定度测试、输出能量不稳定度测试、工作电流、工作电压 等 21 项，点击展开全部
检测对象：航天产品及组件
检测对象：半导体激光器
GB/T 15175-2012
固体激光器主要参数测量方法
检测项目：峰值波长、连续功率、脉冲重复频率、脉冲能量、脉冲宽度、峰值功率、光斑宽度或光斑直径、光束发散角 等 14 项，点击展开全部
检测对象：固体/光纤激光器
固体激光器测试方法 GJB 5441-2005
固体激光器测试方法 GJB 5441-2005
检测项目：峰值波长、连续功率、平均功率、脉冲重复频率、脉冲能量、脉冲宽度、峰值功率、光斑宽度或光斑直径 等 11 项，点击展开全部
检测对象：固体/光纤激光器
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：密封、外部目检、粒子碰撞噪声检测、温度变化
检测对象：光学产品、电子器件
检测对象：航天产品及组件
运载器、上面级和航天器试验 GJB 1027A-2020
运载器、上面级和航天器试验 GJB 1027A-2020
检测项目：组件热真空试验、分系统热真空试验、飞行器热真空试验
检测对象：专用电子产品、专用设备和光学仪器
军用装备实验室环境试验方法 第16部分 振动试验 GJB150.16A-
军用装备实验室环境试验方法 第16部分 振动试验 GJB150.16A-
检测项目：振动试验
检测对象：专用电子产品、专用设备和光学仪器
军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-
军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-
检测项目：低温
检测对象：航天产品及组件
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
检测项目：低温
检测对象：航天产品及组件
军用装备实验室环境试验方法 第3部分 高温试验 GJB 150.3A-
军用装备实验室环境试验方法 第3部分 高温试验 GJB 150.3A-
检测项目：高温
检测对象：航天产品及组件
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
检测项目：高温
检测对象：航天产品及组件
GB/T 2423.22-2012
环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
检测项目：温度变化
检测对象：航天产品及组件