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中国电子科技集团公司第五十研究所环境与可靠性试验中心

当前查看:中国电子科技集团公司第五十研究所环境与可靠性试验中心

北京市 · 北京市

地址:北京市海淀区万寿路27号

联系电话:010-68200821

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前展示该机构前 29 条能力;该机构共 29 条能力记录。

按标准归类为 24 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001

6 项检测项目

检测项目:湿热试验、温度冲击、低温试验、振动试验、冲击试验、高温试验

检测对象:专用电子信息设备

湿热试验温度冲击低温试验振动试验冲击试验高温试验

军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验 GJB 150.4A-

军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验 GJB 150.4A-

1 项检测项目

检测项目:低温试验

检测对象:专用电子信息设备

低温试验

军用设备环境试验方法 湿热试验 GJB 150.9-

军用设备环境试验方法 湿热试验 GJB 150.9-

1 项检测项目

检测项目:湿热试验

检测对象:专用电子信息设备

湿热试验

GB/T 2423.34-2024

电工电子产品环境试验第2部分:试验方法Z/AD:温度/湿度组合循环试验

1 项检测项目

检测项目:湿热试验

检测对象:专用电子信息设备

湿热试验

GB/T 2423.3-2016

电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验

1 项检测项目

检测项目:湿热试验

检测对象:专用电子信息设备

湿热试验

GB/T 2423.4-2008

电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Db:交变湿热(12h+12h循环)

1 项检测项目

检测项目:湿热试验

检测对象:专用电子信息设备

湿热试验

军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验 GJB 150.5A-

军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验 GJB 150.5A-

1 项检测项目

检测项目:温度冲击

检测对象:专用电子信息设备

温度冲击

军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB 150.5-

军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB 150.5-

1 项检测项目

检测项目:温度冲击

检测对象:专用电子信息设备

温度冲击

GB/T 2423.22-2012

环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化试验N 7,

1 项检测项目

检测项目:温度冲击

检测对象:专用电子信息设备

温度冲击

军用装备实验室环境试验方法 第16部分:振动试验 GJB 150.16A-

军用装备实验室环境试验方法 第16部分:振动试验 GJB 150.16A-

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:专用电子信息设备

振动试验

军用设备环境试验方法 振动试验 GJB 150.16-

军用设备环境试验方法 振动试验 GJB 150.16-

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:专用电子信息设备

振动试验

GB/T 2423.56-2023

环境试验第2部分:试验方法试验Fh:宽频带随机振动和导则

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:专用电子信息设备

振动试验

GB/T 2423.10-2019

环境试验第2部分:试验方法试验Fc:振动(正弦)

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:专用电子信息设备

振动试验

军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验 GJB 150.18A-

军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验 GJB 150.18A-

1 项检测项目

检测项目:冲击试验

检测对象:专用电子信息设备

冲击试验

军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB 150.18-

军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB 150.18-

1 项检测项目

检测项目:冲击试验

检测对象:专用电子信息设备

冲击试验

GB/T 2423.5-2019

环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击

1 项检测项目

检测项目:冲击试验

检测对象:专用电子信息设备

冲击试验

可靠性鉴定和验收试验 GJB 899A-2009 附录B:B3.2、B

可靠性鉴定和验收试验 GJB 899A-2009 附录B:B3.2、B

1 项检测项目

检测项目:综合试验

检测对象:专用电子信息设备

综合试验

GB/T 2423.35-2019

环境试验第2部分:试验和导则气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验

1 项检测项目

检测项目:综合试验

检测对象:专用电子信息设备

综合试验

军用设备环境试验方法 低温试验 GJB 150.4-

军用设备环境试验方法 低温试验 GJB 150.4-

1 项检测项目

检测项目:低温试验

检测对象:专用电子信息设备

低温试验

GB/T 2423.1-2008

电工电子产品环境试验第2部分:试验方法A:低温

1 项检测项目

检测项目:低温试验

检测对象:专用电子信息设备

低温试验

军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验 GJB 150.3A-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验 GJB 150.3A-

1 项检测项目

检测项目:高温试验

检测对象:专用电子信息设备

高温试验

军用设备环境试验方法 高温试验 GJB 150.3-

军用设备环境试验方法 高温试验 GJB 150.3-

1 项检测项目

检测项目:高温试验

检测对象:专用电子信息设备

高温试验

GB/T 2423.2-2008

电工电子产品环境试验第2部分:试验方法B:高温

1 项检测项目

检测项目:高温试验

检测对象:专用电子信息设备

高温试验

军用装备实验室环境试验方法 第9部分:湿热试验 GJB 150.9A-

军用装备实验室环境试验方法 第9部分:湿热试验 GJB 150.9A-

1 项检测项目

检测项目:湿热试验

检测对象:专用电子信息设备

湿热试验

机构信息

机构名称

中国电子科技集团公司第五十研究所环境与可靠性试验中心

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市海淀区万寿路27号

法定代表人

王海波

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