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2026-05-12
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JESD22-A119A-R-2021
低温存储寿命
检测项目：低温
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.50-2025
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy: 恒定湿热 主要用于元件的加速试验
检测项目：恒定温湿度偏压寿命试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A110E.01-2021
高加速温湿度压力试验（HAST）
检测项目：强加速稳态湿热试验
检测对象：电子元器件
GB/T 4937.4-2012
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
检测项目：强加速稳态湿热试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A108G-2022
温度偏压工作寿命
检测项目：温度、偏差和使用寿命
检测对象：电子元器件
JESD22-A105D-2020
功率和温度循环
检测项目：功率温度循环
检测对象：电子元器件
JESD78F.02-2023
IC闩锁测试
检测项目：集成电路闩锁测试
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-004-Rev-D-2012
IC闩锁测试
检测项目：集成电路闩锁测试
检测对象：电子元器件
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2024
静电放电敏感度试验-人体模型
检测项目：人体模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-002-REV-E-2013
人体模型（HBM）静电放电测试
检测项目：人体模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q101-001-Rev-A-2005
人体模型（HBM）静电放电测试
检测项目：人体模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A：低温
检测项目：低温
检测对象：电子元器件
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：人体模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
MIL-STD-883L-2019
国防部标准微电路测试方法 方法
检测项目：人体模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2025
静电放电敏感度试验-充电器件模型-元器件级别
检测项目：充电器件模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-011-Rev-D-2019
带电器件模型（CDM）静电放电测试
检测项目：充电器件模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q101-005-Rev-A-2019
带电器件模型（CDM）静电放电测试
检测项目：充电器件模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A115C-2010
静电放电（ESD）灵敏度试验机型号（MM）
检测项目：机器放电模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
J-STD-020F-2022
非密封固态表面贴装元件湿度/回流焊敏感度分级
检测项目：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
检测对象：电子元器件
JESD22-A113I-2020
非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
检测项目：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
检测对象：电子元器件
GB/T 4937.30-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第 30 部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
检测项目：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
检测对象：电子元器件
AEC-Q005-REV-A-2010
无铅测试要求 3.4锡（Sn）晶须验收测试
检测项目：锡须生长
检测对象：电子元器件
JESD22-A103E.01-2021
高温储存寿命
检测项目：高温
检测对象：电子元器件
JESD201A-R-2020
锡和锡合金表面处理的锡须敏感性环境验收要求
检测项目：锡须生长
检测对象：电子元器件
JESD22-A121A测量锡和锡合金表面光洁度上的晶须生长 JESD22-A121A-R-2025
测量锡和锡合金表面处理上毛刺生长的试验方法 JESD22-A121A-R-
检测项目：锡须生长
检测对象：电子元器件
IPC/JEDEC J-STD-035A-2022
非气密封装固态表面贴装器件超声扫描显微镜
检测项目：超声波扫描显微镜检查
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验B:高温
检测项目：高温
检测对象：电子元器件
JESD22-A104F.01-2023
温度循环
检测项目：温度变化
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.22-2012
环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
检测项目：温度变化
检测对象：电子元器件
JESD22-A118B.01-2021
加速防潮试验-无偏压高加速试验
检测项目：未饱和高压蒸汽恒定湿热
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.40-2013
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热
检测项目：未饱和高压蒸汽恒定湿热
检测对象：电子元器件
JESD22-A101D.01-2021
稳态温湿偏置寿命试验
检测项目：恒定温湿度偏压寿命试验
检测对象：电子元器件