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数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 15 条能力；该机构共 15 条能力记录。
按标准归类为 15 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JESD22-A106B.01-2016
热冲击
检测项目：热冲击
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
GB/T 4937.30-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
检测项目：试验前预处理
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
JESD22-A119A-2021
低温存储寿命
检测项目：低温存储寿命
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A:低温
检测项目：低温存储寿命
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
GB/T 4937.4-2012
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验(HAST）
检测项目：强加速稳态湿热试验
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
JESD22-A110E.01-2021
高加速温湿度应力试验
检测项目：高加速温湿度应力试验
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
JESD22-A108F-2017
温度偏压寿命试验
检测项目：高温工作寿命试验
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
JESD22-A103E.01-2021
高温存储寿命
检测项目：高温存储
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验B:高温
检测项目：高温存储
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
JESD22-A118B.01-2021
加速水汽抵抗性-无偏压HAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）
检测项目：未饱和高压蒸汽恒定湿热
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
GB/T 2423.40-2013
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热
检测项目：未饱和高压蒸汽恒定湿热
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
JESD22-A102E-2021
加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮
检测项目：无偏压高压蒸煮
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
GB/T 2423.50-2012
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy：恒定湿热 主要用于元件的加速实验
检测项目：恒定温湿度偏压寿命试验
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
JESD22-A101D.01-2021
稳态温湿度偏置寿命
检测项目：恒定温湿度偏压寿命试验
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件
JESD22-A113I-2020
非模拟表面贴装装置在可靠性测试前的预处理
检测项目：试验前预处理
检测对象：电工电子产品/非气密封装半导体器件