天津航空机电有限公司可靠性和环境检测中心

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法

电磁继电器总规范 GJB65B-1999

电磁继电器总规范 GJB65B-1999

有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB65C-2021

有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB65C-2021

电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021

微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021

电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1038、方法

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1038、方法

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1038、方法

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1038、方法

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-96 方法

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-96 方法

GB/T5729-2003

电子设备用固定电阻器总规范

GB/T2693-2001

电子设备用固定电容器总规范 方法

GB/T 6346.1-2024

电子设备用固定电容器 第1部分：总规范

电磁继电器总规范 GJB65B-1999 附录B

电磁继电器总规范 GJB65B-1999 附录B

微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1014A

微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法1014A

电磁继电器总规范 GJB65B-1999 4.8.5.1、

电磁继电器总规范 GJB65B-1999 4.8.5.1、

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法