当前查看:长沙瑶华半导体科技有限公司测试中心
湖南省 · 长沙市
地址:长沙市望城经济技术开发区航空路6号
联系电话:0731-82562818
数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 18 条能力;该机构共 18 条能力记录。
按标准归类为 13 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
用于机动车辆电力电子转换器单元的功率模块的认证 AQG324:2021
用于机动车辆电力电子转换器单元的功率模块的认证 AQG324:2021
检测项目:高温栅偏、高温高湿反偏、高温存储、温度冲击
检测对象:半导体器件
温度、偏置、工作寿命 JESD22-A108G:2022
温度、偏置、工作寿命 JESD22-A108G:2022
检测项目:高温工作寿命、高温反偏、高温栅偏
检测对象:半导体器件
非密封表面贴装器件在环境试验前的预处理方法 JESD22-A113I:
非密封表面贴装器件在环境试验前的预处理方法 JESD22-A113I:
检测项目:预处理
检测对象:半导体器件
高加速温度和湿度应力试验 JESD22 A-110E.01:
高加速温度和湿度应力试验 JESD22 A-110E.01:
检测项目:偏置高加速应力
检测对象:半导体器件
半导体器件的环境试验方法 第 1 部分:方法1000 至1999 MIL−STD−750−1B w/CHANGE 2:2023 方法
半导体器件的环境试验方法 第 1 部分:方法1000 至1999 MIL−STD−750−1B w/CHANGE 2:2023 方法
检测项目:间歇工作寿命
检测对象:半导体器件
用于机动车辆电力电子转换器单元的功率模块的认证 AQG324:2021 9.2、
用于机动车辆电力电子转换器单元的功率模块的认证 AQG324:2021 9.2、
检测项目:功率循环
检测对象:半导体器件
半导体器件的环境试验方法 第 1 部分:方法1000 至1999 MIL−STD−750−1B w/CHANGE 2:2023 方法 1038 、方法
半导体器件的环境试验方法 第 1 部分:方法1000 至1999 MIL−STD−750−1B w/CHANGE 2:2023 方法 1038 、方法
检测项目:高温反偏
检测对象:半导体器件
元器件引线、端子、焊片、接线柱和导线的可焊性测试 EIA/IPC/JEDEC J-STD-002E:2017 4.2.4、4.2.6、
元器件引线、端子、焊片、接线柱和导线的可焊性测试 EIA/IPC/JEDEC J-STD-002E:2017 4.2.4、4.2.6、
检测项目:可焊性
检测对象:半导体器件
非密封表面贴装器件的湿度回流焊敏感等级 IPC/JEDEC J-STD-020F:
非密封表面贴装器件的湿度回流焊敏感等级 IPC/JEDEC J-STD-020F:
检测项目:预处理
检测对象:半导体器件
稳态温湿度偏置寿命试验 JESD22 A-101D.01:
稳态温湿度偏置寿命试验 JESD22 A-101D.01:
检测项目:高温高湿反偏
检测对象:半导体器件
高温存储寿命 JESD22-A103E.01:
高温存储寿命 JESD22-A103E.01:
检测项目:高温存储
检测对象:半导体器件
温度循环 JESD22-A104F.01:
温度循环 JESD22-A104F.01:
检测项目:温度循环
检测对象:半导体器件
加速湿度抵抗-非偏置 JESD22-A118B.01:
加速湿度抵抗-非偏置 JESD22-A118B.01:
检测项目:非偏置高加速应力
检测对象:半导体器件