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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 8 条相关能力。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：外部目检、X射线照相、内部目检、扫描电子显微镜检查、玻璃钝化层完整性分析、扫描超声波显微镜检查
检测对象：半导体器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 附录A(方法2011)
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 附录A(方法2011)
检测项目：引线键合点剪切试验
检测对象：半导体器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2011.2
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2011.2
检测项目：引线拉力试验
检测对象：半导体器件