当前查看：中芯国际集成电路制造上海有限公司车载芯片可靠性专项检测中心
上海市
数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 6 条能力；该机构共 6 条能力记录。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
高温存储寿命 JESD22-A103E:2015 4.1，
高温存储寿命 JESD22-A103E:2015 4.1，
检测项目：高温存储寿命试验
检测对象：半导体器件
加速耐湿 -无偏置高加速应力试验 JESD22-A118B:2015
加速耐湿 -无偏置高加速应力试验 JESD22-A118B:2015
检测项目：无偏压高加速试验
检测对象：半导体器件
高加速温度和湿度应力试验 JESD22-A110E:2015
高加速温度和湿度应力试验 JESD22-A110E:2015
检测项目：高加速温湿度应力试验
检测对象：半导体器件
温度循环 JESD22-A104F.01:2023
温度循环 JESD22-A104F.01:2023
检测项目：温度循环试验
检测对象：半导体器件
稳态温度湿度偏置试验 JESD22-A101D:2015
稳态温度湿度偏置试验 JESD22-A101D:2015
检测项目：恒温恒湿偏压试验
检测对象：半导体器件
温度、偏压和工作寿命 JESD22-A108G:2022
温度、偏压和工作寿命 JESD22-A108G:2022
检测项目：温度、偏压和工作寿命
检测对象：半导体器件