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2026-05-12
当前机构按“电源”筛选，展示 36 条相关能力。
按标准归类为 13 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出电压V<Sub>O</Sub>、输出电流I<Sub>O</Sub>、输出纹波电压V<Sub>RIP</Sub>、电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、交叉调整率、输入电流I<Sub>I</Sub>、效率 等 12 项，点击展开全部
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
GB/T 17574-1998
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：电源电流I<Sub>CC</Sub>、动态条件下的总电源电流、静态条件下的电源电流
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体器件集成电路存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T 17940-2000
半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇 第3节
检测项目：电源电流、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、电源纹波抑制比S<Sub>RIP</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
检测对象：半导体集成电路电压调整器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目：电源电流I<Sub>CC</Sub>、直流电源抑制比PSRR<Sub>DC</Sub>
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：高电平电源电流、低电平电源电流
检测对象：半导体光电耦合器
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
检测项目：电源电流I<Sub>CC</Sub>
检测对象：半导体集成电路TTL电路
GB/T 14030-1992
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：静态电源电流I<Sub>+</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项目：电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
检测项目：电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项目：电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T 6798-1996
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T 4377-2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电源纹波抑制比S<Sub>RIP</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：电源电流I<Sub>DD</Sub>
检测对象：CMOS数字集成电路