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2026-05-12
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GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B高温
检测项目：高温
检测对象：集成电路
JESD22-A101D.01-2021
恒定温湿度偏压寿命试验
检测项目：恒定湿热试验
检测对象：集成电路
JY/T 0584-2020
扫描电子显微镜分析方法通则
检测项目：微观形貌分析
检测对象：集成电路
GB/T 17359-2023
微束分析原子序数不小于11的元素能谱法定量分析
检测项目：能谱法定量分析
检测对象：集成电路
J-STD-020F-2022
非密封表面贴装器件（SMD）湿度/回流焊敏感性分类
检测项目：湿度敏感等级评估试验
检测对象：集成电路
JESD22-A113I-2020
非密封表面贴装器件的可靠性测试前预处理
检测项目：预处理试验
检测对象：集成电路
J-STD-035A-2022
非密封封装电子器件的声学显微镜
检测项目：超声检测
检测对象：集成电路
JESD22-A103E.01 2021
高温储存寿命试验
检测项目：高温
检测对象：集成电路
GB/T 2423.40-2013
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热
检测项目：未饱和高压蒸汽恒定湿热试验
检测对象：集成电路
JESD22-A102E-2015
加速耐湿性-非偏压压力锅
检测项目：未饱和高压蒸汽恒定湿热试验
检测对象：集成电路
JESD22-A118B.01-2021
加速耐湿性-非偏压HAST
检测项目：未饱和高压蒸汽恒定湿热试验
检测对象：集成电路
JESD22-A110E.01-2021
高加速温度和湿度应力测试（HAST）
检测项目：未饱和高压蒸汽恒定湿热试验
检测对象：集成电路
GB/T 2423.22-2012
环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
检测项目：温度变化
检测对象：集成电路
JESD22-A104F.01-2023
温度循环
检测项目：温度变化
检测对象：集成电路
GB/T 16594-2008
微米级长度的扫描电镜测量方法通则
检测项目：微米级长度
检测对象：集成电路