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2026-05-12
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按标准归类为 20 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 35006-2018
《半导体集成电路 电平转换器测试方法》
检测项目：输入高电平电压、输入低电平电压、输出高电平电流、输出低电平电流、输出由低电平到高电平传输延迟时间、输出由高电平到低电平传输延迟时间、输出由高阻态到高电平传输延迟时间、输出由高阻态到低电平传输延迟时间 等 12 项，点击展开全部
检测对象：电平转换器
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法
检测项目：正向电压、反向漏电流、击穿电压（二极管）、漏源-击穿电压、集电极-发射极击穿电压、发射极-基极击穿电压、集电极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流 等 12 项，点击展开全部
检测对象：二极管
检测对象：场效应晶体管
检测对象：双极型晶体管
GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 2节
检测项目：输出高电平电压、阈值电压、传输时间、延迟时间、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、动态条件下的电源电流 等 10 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路COMS电路
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
检测对象：快闪存储器
检测对象：电平转换器
检测对象：单片集成电路
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：电容量、品质因数、绝缘电阻、介质耐电压、直流电阻、接触电阻、温度冲击试验、稳态湿热试验 等 9 项，点击展开全部
检测对象：无极性电容器
检测对象：电感器
检测对象：开关
检测对象：电子及电气元件
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ/20961-2006
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ/20961-2006
检测项目：数字输入高电平电压、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、增益误差、微分线性误差
检测对象：D/A转换器
GB/T 36477-2018
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》
检测项目：输出低电平电压、输出高电平电压、存储单元0变1功能、存储单元1变0功能、特殊数据图形功能
检测对象：快闪存储器
GB/T 4586-1994
《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》 第IV章、
检测项目：栅极截止电流或栅极漏泄电流、漏极电流、通态漏-源电阻、栅-源阈值电压、正向跨导
检测对象：场效应晶体管
《微波元器件性能测试方法》 GJB2650-96 方法
《微波元器件性能测试方法》 GJB2650-96 方法
检测项目：电压驻波比、插入损失（插入损耗）、隔离度、阻带衰减、变频损耗
检测对象：微波元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：温度循环试验、交变湿热试验、老炼试验、稳态寿命试验、外部目检
检测对象：电子及电气元件
《晶体振荡器通用规范》 GJB 1648A-2011
《晶体振荡器通用规范》 GJB 1648A-2011
检测项目：输入电流功率、逻辑输出电平（方波）、上升时间和下降时间（方波）、占空因数（方波）
检测对象：晶体振荡器
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：外部目检、稳态寿命试验、温度循环、交变湿热
检测对象：电子及电气元件
射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011
射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011
检测项目：电感量、品质因数、直流电阻
检测对象：电感器
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB 675A-2002
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB 675A-2002
检测项目：电感量、品质因数
检测对象：电感器
《电子及电气元件试验方法》 GJB360B-2009 方法
《电子及电气元件试验方法》 GJB360B-2009 方法
检测项目：介质耐电压、绝缘电阻
检测对象：变压器
1类瓷介固定电容器通用规范 GJB 468A-2011
1类瓷介固定电容器通用规范 GJB 468A-2011
检测项目：损耗角正切
检测对象：无极性电容器
GB/T 8554-1998
《电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序》
检测项目：有效电感
检测对象：变压器
军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-
军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-
检测项目：高温试验
检测对象：电子及电气元件
军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-
军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-
检测项目：低温试验
检测对象：电子及电气元件
电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032-
电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032-
检测项目：温度变化试验
检测对象：电子及电气元件
GB/T 2423.3-2016
环境试验 第2部分 试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
检测项目：恒定湿热试验
检测对象：电子及电气元件