当前查看：北京航空航天大学可靠性工程研究所元器件质量保证中心
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 36 条相关能力。
按标准归类为 15 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）、密封、外部目检、声学扫描显微镜检查、内部气体成分分析、键合强度、扫描电镜检查、玻璃钝化层完整性检查 等 11 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）、密封、声学扫描显微镜检查、外部目检、内部气体成分分析、键合强度、扫描电镜检查、玻璃钝化层完整性检查 等 11 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996
检测项目：声学扫描显微镜检查、内部气体成分分析
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2009A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2009A
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2020A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2020A
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 1014A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 1014A
检测项目：密封
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2017A、2013、2010A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2017A、2013、2010A
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 2017、2013、
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 2017、2013、
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 2017、2013、
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 2017、2013、
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2011A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2011A
检测项目：键合强度
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2018A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2018A
检测项目：扫描电镜检查
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2021A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2021A
检测项目：玻璃钝化层完整性检查
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2019A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2019A
检测项目：剪切强度
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2027A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2027A
检测项目：粘接强度
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2012A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2012A
检测项目：X射线检查
检测对象：电子元器件