当前查看：鹏城检测深圳有限公司
广东省
数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“半导体集成电路模拟开关”筛选，展示 10 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
检测项目：导通电阻<I>R</I><Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流 <I>I</I><Sub>D</Sub><Sub>(</Sub><Sub>off</Sub><Sub>）</Sub>、截止态源极漏电流 <I>I</I><Sub>S</Sub><Sub>(</Sub><Sub>off</Sub><Sub>）</Sub>、导通态漏电流 <I>I</I><Sub>DS(on)</Sub>、开启时间 <I>t</I><Sub>on</Sub>、关断时间 <I>t</I><Sub>off</Sub>、通道转换时间 <I>t</I><Sub>T</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇2节2方法
检测项目：输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电流<I>I</I><Sub>IL</Sub>、静态工作电源电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关