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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 17 条相关能力。
按标准归类为 15 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-750-1B-2023
测试方法标准 半导体器件环境试验方法第1部分：试验方法1000至1999
检测项目：间歇运行寿命试验、温度循环
检测对象：电子元器件
MIL-STD-750-1B 2023
测试方法标准 半导体器件环境试验方法第1部分：试验方法1000至1999
检测项目：稳态运行功率试验、交流阻断电压试验
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
检测项目：低温试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A110E.01:2021
高加速温度和湿度应力试验
检测项目：高加速温湿度应力试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q101-001A
人体模型静电放电试验
检测项目：人体模型静电放电试验
检测对象：电子元器件
GB/T 17626.2-2018
电磁兼容 试验和测量技术静电放电抗扰度试验
检测项目：静电放电抗扰度
检测对象：电子元器件
GB/T 17626.5-2019
电磁兼容 试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验
检测项目：浪涌（冲击）抗扰度
检测对象：电子元器件
GB/T 28046.2-2019
道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验 第2部分：电气负荷
检测项目：抛负载试验
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.3-2016
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
检测项目：恒定湿热
检测对象：电子元器件
JESD22-A108G:2022
温度偏置寿命试验
检测项目：温度偏置寿命试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A101D.01:2021
稳态湿热偏置寿命试验
检测项目：稳态湿热偏置寿命试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A102E:2015
加速耐湿-无偏高压蒸煮
检测项目：无偏高压蒸煮
检测对象：电子元器件
JESD22-A118B.01:2021
加速耐湿-无偏高加速温湿度应力试验
检测项目：无偏高加速温湿度应力试验
检测对象：电子元器件
GB/T 4937.30-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
检测项目：预处理试验
检测对象：电子元器件