当前查看：西南技术物理研究所检测校准中心实验室
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 33 条相关能力。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 548B-2005
微电路试验方法和程序 方法
检测项目：高温存储、温度循环试验、恒定加速度试验、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封（氦质谱检漏）、密封（氟油检漏）
检测对象：电子元器件
GJB 128A-1997
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：高温存储、温度循环试验、恒定加速度试验、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封（氦质谱检漏）、密封（氟油检漏）
检测对象：电子元器件
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：高温存储、温度循环试验、恒定加速度试验、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封（氦质谱检漏）、密封（氟油检漏）
检测对象：电子元器件
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：高温存储、温度循环试验、恒定加速度试验、粒子碰撞噪声检测试验、密封（氦质谱检漏）、密封（氟油检漏）
检测对象：电子元器件
GJB 360A－1996
电子及电气元件试验方法217 方法
检测项目：恒定加速度试验、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验
检测对象：电子元器件
GJB 360B－2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目：恒定加速度试验、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验
检测对象：电子元器件