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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 13 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：稳态寿命、粒子碰撞噪声检测、芯片粘接的超声检测、稳定性烘焙、老炼试验、外部目检、X射线照相
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：X射线照相、芯片粘接的超声检测、稳态寿命、稳定性烘焙、老炼试验、外部目检
检测对象：微电子器件