当前查看：长沙韶光半导体有限公司检测实验室
湖南省
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“半导体集成电路模拟开关”筛选，展示 11 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 14028-2018
《半导体集成电路模拟开关测试方法》
检测项目：导通电阻<I>R</I><Sub>ON</Sub>、导通电阻路差△<I>R</I><Sub>ON</Sub>、截止态漏极漏电流 <I>I</I><Sub>D(off)</Sub>、截止态源极漏电流 <I>I</I><Sub>s(off)</Sub>、导通态漏电流<I>I</I><Sub>D(on)</Sub>、开启时间<I>t</I><Sub>on</Sub>、关断时间<I>t</I><Sub>off</Sub>、通道转换时间<I>t</I><Sub>T</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T 17574-1998
《半导体器件集成电路 第 2 部分：数字集成电路》 第Ⅳ篇 第 2 节
检测项目：输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电流<I>I</I><Sub>IL</Sub>、静态条件下的电源电流<I>I</I><Sub>DD</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关