当前查看：山西中科潞安半导体技术研究院有限公司检测中心
山西省
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“GB/T 32188-2015”筛选，展示 1 条相关能力。
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GB/T 32188-2015
氮化镓单晶衬底片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
检测项目：X射线双晶摇摆曲线半高宽
检测对象：晶体材料及制品