当前查看：山西中科潞安半导体技术研究院有限公司检测中心
山西省
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数据更新时间
2026-05-12
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扫描电子显微镜分析方法通则 JY/T 0584-
扫描电子显微镜分析方法通则 JY/T 0584-
检测项目：微观形貌
检测对象：晶体材料及制品
GB/T 16594-2008
微米级长度的扫描电镜测量方法通则
检测项目：微观形貌
检测对象：晶体材料及制品
GB/T 17359-2023
微束分析 原子序数不小于11的元素能谱法定量分析
检测项目：微区元素分析
检测对象：晶体材料及制品
多晶体X射线衍射方法通则 JY/T 0587-2020
多晶体X射线衍射方法通则 JY/T 0587-2020
检测项目：物相定性分析
检测对象：晶体材料及制品
GB/T 32188-2015
氮化镓单晶衬底片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
检测项目：X射线双晶摇摆曲线半高宽
检测对象：晶体材料及制品