当前查看:北京七星华创微电子有限责任公司实验室
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选,展示 45 条相关能力。
按标准归类为 5 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目:温度循环、恒定加速度、粒子碰撞噪声检测、老炼、密封性检查、外形尺寸、键合强度、外观目检 等 22 项,点击展开全部
检测对象:电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目:外观目检、温度循环、恒定加速度、粒子碰撞噪声检测、老炼、外形尺寸、键合强度、剪切强度 等 20 项,点击展开全部
检测对象:电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项目:密封性检查
检测对象:电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2010.1、2013、
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2010.1、2013、
检测项目:内部目检
检测对象:电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法2010.2、2013、
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法2010.2、2013、
检测项目:内部目检
检测对象:电子元器件