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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子及电气元件”筛选，展示 25 条相关能力。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：高温寿命试验、耐湿试验、温度冲击试验、低频振动试验、高频振动试验、随机振动试验、加速度试验、冲击试验 等 10 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法
检测项目：恒定湿热类试验、耐湿试验、温度冲击试验、低频振动试验、高频振动试验、随机振动试验、加速度试验、冲击试验 等 9 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 方法 209 X射线照相检验 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 方法 209 X射线照相检验 GJB 360B-2009 方法
检测项目：X射线照相检验
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 方法217 粒子碰撞噪声检测试验 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 方法217 粒子碰撞噪声检测试验 GJB 360B-2009 方法
检测项目：微粒碰撞噪声检测
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 方法217 粒子碰撞噪声检测试验 GJB 360A-1996 方法217 4~
电子及电气元件试验方法 方法217 粒子碰撞噪声检测试验 GJB 360A-1996 方法217 4~
检测项目：微粒碰撞噪声检测
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 方法 208 可焊性试验 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 方法 208 可焊性试验 GJB 360B-2009 方法
检测项目：可焊性试验
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 方法
检测项目：高温寿命试验
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：恒定湿热类试验
检测对象：电子元器件