当前查看：上海艾为电子技术股份有限公司实验中心
上海市 · 上海市
地址：上海市闵行区秀文路908弄2号1201室
联系电话：021-54271166
数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 21 条能力；该机构共 21 条能力记录。
按标准归类为 18 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC-Q003A-2013
集成电路特性指南
检测项目：引线键合剪切试验、引线键合拉力试验、物理尺寸测量
检测对象：电子元器件
JESD22-A108G-2022
温度偏压工作寿命试验
检测项目：早期寿命故障率试验、高温偏压工作寿命试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A113I-2020
非密封表面贴装器件在可靠性测试之前的预处理方法 5.1, 5.2,5.4, 5.5, 5.6, 5.10,
检测项目：预处理试验
检测对象：电子元器件
J-STD-002E-2017
部件引线、末端、接线片、终端和焊丝用可焊性试验 4.2.6、
检测项目：可焊性试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-008A-2003
早期寿命故障率试验
检测项目：早期寿命故障率试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-001C-1998
引线键合剪切试验
检测项目：引线键合剪切试验
检测对象：电子元器件
JESD22-B116B-2017
引线键合剪切试验
检测项目：引线键合剪切试验
检测对象：电子元器件
MIL-STD883L-2019 Method 2011.10
美国国防部集成电路标准试验方法 键合强度（破坏性键合拉力试验）
检测项目：引线键合拉力试验
检测对象：电子元器件
JESD22-B120.1-2024
引线键合拉力试验方法
检测项目：引线键合拉力试验
检测对象：电子元器件
JESD22-B100B（R2021）
物理尺寸
检测项目：物理尺寸测量
检测对象：电子元器件
JESD22-A101D.01-2021
稳态温湿度偏压寿命试验
检测项目：稳态温湿度偏压寿命试验
检测对象：电子元器件
JESD22-B111A.01-2024
手持式电子产品元器件板级跌落试验方法
检测项目：跌落试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A103E.01-2021
高温储存寿命试验
检测项目：高温储存寿命试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A118B.01-2021
加速防潮-无偏压高加速应力试验
检测项目：无偏压高加速应力试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A102E-2015
加速防潮-无偏压高压蒸煮试验
检测项目：无偏压高压力蒸煮试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A104F.01-2023
温度循环试验
检测项目：温度循环试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A110E.01-2021
高加速温湿度应力试验
检测项目：高加速温湿度应力试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A105D-2020
功率温度循环试验
检测项目：功率温度循环试验
检测对象：电子元器件